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蘇州英飛思科學儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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您好，歡迎蒞臨英飛思科學，歡迎咨詢...
| 先生： |
英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus，實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量
配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。
蘇州英飛思科學儀器有限公司，英文名字：Efficiency Scientific Instrument Co.，Ltd.
公司logo和英文縮寫為ESI。
英飛思ESI坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。
XRF鍍層測厚儀工作原理鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。
溫馨提示：以上是關于微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus-英飛思科學的詳細介紹，產(chǎn)品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供，如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應商或者讓供應商主動聯(lián)系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關的產(chǎn)品！
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第5年
