鈣鈦礦厚度測量儀在多次測量同一物體的結果一致性方面，表現通常非常穩定和高效。這種測量儀基于光學干涉現象，通過精確測量光波在材料表面反射和透射后的相位差來計算薄膜的厚度。由于其高度的技術先進性和精密性，它能夠在多次測量中保持相對一致的結果。

首先，鈣鈦礦厚度測量儀采用先進的算法和技術，確保每次測量都能得到準確的數據。這些算法和技術能夠有效消除誤差，并提高測量的精度和穩定性。

其次，測量儀在設計和制造過程中，會嚴格控制各種可能影響測量結果的因素，如光源的穩定性、探測器的靈敏度等。這些因素的有效控制可以進一步確保測量結果的準確性和一致性。

此外，對于同一物體的多次測量，操作人員的技能水平和經驗也會對結果的一致性產生影響。因此，在使用鈣鈦礦厚度測量儀時，操作人員需要經過專業培訓，并嚴格按照操作規程進行操作，以確保每次測量都能在相同的條件下進行。

綜上所述，鈣鈦礦厚度測量儀在多次測量同一物體的結果一致性方面表現出色。它能夠提供準確、穩定且一致的測量結果，為科研和工業生產中的薄膜厚度測量提供了有力的支持。然而，為了保持測量的一致性，還需要注意操作人員的技能水平和經驗，以及測量儀的定期維護和校準。