膜厚儀的測量范圍因品牌、型號、傳感器等因素的不同而有所差異。一般來說，它可以測量薄膜的厚度范圍在0.1微米至幾毫米之間，甚至一些高端型號的膜厚儀可以測量到數百毫米甚至數米級別的薄膜。然而，需要明確的是，測量范圍越寬，測量的精度往往會相應降低。具體到非常薄的膜，膜厚儀的測量能力會受到其技術參數的制約。例如，某些膜厚儀在特定條件下（如使用特定物鏡和折射率）可以測量到低至4nm的薄膜厚度。此外，對于透明或半透明薄膜材料，膜厚儀通常具有較高的測量精度和可靠性。在實際應用中，為了確保測量結果的準確性，用戶需要根據所測薄膜的特性和需求選擇合適的膜厚儀型號和參數。同時，定期對膜厚儀進行校準和維護也是非常重要的，以確保其長期穩定的測量性能。總的來說，膜厚儀能夠測量的薄膜厚度范圍廣泛，但具體能測多薄的膜還需根據具體的儀器型號和技術參數來確定。在選擇和使用膜厚儀時，用戶需要綜合考慮測量范圍、精度、重復性以及其他相關因素，以滿足實際應用的需求。