光譜干涉膜厚測量儀是一種利用光譜干涉原理來測量薄膜厚度的精密儀器。其支持的厚度范圍通常取決于儀器的具體型號、設計以及所應用的測量技術。一般而言，光譜干涉膜厚測量儀能夠測量從納米級到微米級的薄膜厚度，具.. 全文

黑色尼龍透光率檢測儀是一種用于檢測黑色尼龍材料透光率的儀器，使用時需要注意以下事項：檢測前，需要確保儀器處于正常工作狀態，如光源、探測器等均處于正常狀態。檢測時，需要確保樣品處于穩定狀態，避免因樣品移.. 全文

不管你選擇哪家熒光量子測量系統廠家,在確定之前一定要多跑幾家，了解他們的服務態度、報價、具體事項,綜合比較下再進行選擇。 全文

反射率檢測儀采用積分球8角測試方法，可以用于測量物體的反射率、反射的顏色和化學樣品中的成分信息，是為涂料、顏料、油墨、平面樣品、硅晶片、鍍膜表面、鏡面鋁鏡、油漆、塑料、布料等化工行業. 全文